北京
分享至
国家知识产权局信息显示，联影越质科学仪器（武汉）有限公司申请一项名为“检测设备的参数调整方法、装置、设备、介质和程序产品”的专利，公开号CN121367112A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请涉及一种检测设备的参数调整方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括：在利用检测设备对目标样品进行生物检测的过程中，控制检测设备的激光器进行激光试射，并获取激光试射落点位置、激光试射束斑以及目标样品对应的样品信息，根据激光试射落点位置、激光试射束斑和样品信息，确定激光器的激光调节参数，根据激光调节参数对激光器进行参数调整。采用本方法能够提升检测设备的控制效率。
天眼查资料显示，联影越质科学仪器（武汉）有限公司，成立于2024年，位于武汉市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本5000万人民币。通过天眼查大数据分析，联影越质科学仪器（武汉）有限公司专利信息6条。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
