北京
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国家知识产权局信息显示，中国科学技术大学;华工法利莱切焊系统工程有限公司申请一项名为“二维振镜扫描系统过渡轨迹生成方法、系统、设备及介质”的专利，公开号CN121351922A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明涉及振镜控制技术领域，公开了一种二维振镜扫描系统过渡轨迹生成方法、系统、设备及介质。该方法包括对基于策略的强化学习模型进行训练，得到训练后的模型；获取初始位姿和目标位姿；将初始位姿和目标位姿输入训练后的模型进行推理，以获得多个中间节点的位姿，直至达到目标位姿的位置；根据中间节点形成过渡轨迹。本发明中采用强化学习方式，基于训练后的模型实现动态探索过渡曲线参数，给出耗时更短、速度变化率更小的过渡曲线，从而减少振镜的惯性对扫描轨迹的影响，确保激光束能够在目标表面上形成高精度、高质量的扫描图案。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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