北京
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国家知识产权局信息显示，森索法尔科技有限公司申请一项名为“使用轴向扫描和调制光测量三维物体的表面高度图的方法和装置”的专利，公开号CN121311733A，申请日期为2023年6月。
专利摘要显示，利用光测量三维物体的表面的高度图的方法包括：改变成像系统的光学焦点位置与被测物体之间的距离；对用于照射物体并对物体成像的光施加调制，以获得光调制；采集至少一个图像，每个图像均在距离变化和光调制期间曝光；确定至少一个图像像素中对距离和光调制敏感的数值度量；以及根据数值度量、光调制和距离变化确定物体的高度图。还提供了用于执行所述方法步骤的装置。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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