北京
国家知识产权局信息显示，航天科工微电子系统研究院有限公司申请一项名为“一种基于互相关分析的高精度快反镜标定方法”的专利，公开号CN121253123A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于互相关分析的高精度快反镜标定方法，属于光学测量技术领域，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：采集原始数据，步骤S2：数据预处理，步骤S3：互相关计算，步骤S4：信号插值细化，步骤S5：时间对齐调整，步骤S6：多组数据批处理，步骤S7：精度判定，步骤S8：标定误差合成，通过步骤S1‑S8形成的特定标定方法。本发明通过引入互相关分析实现自动化的时间偏移估计，结合高阶插值突破采样频率限制，同时对多组数据进行统计分析，解决了起始不同步、分辨率不足以及误差无法量化的问题，提高了快反镜的标定精度与稳定性。
天眼查资料显示，航天科工微电子系统研究院有限公司，成立于2017年，位于成都市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本33150.2万人民币。通过天眼查大数据分析，航天科工微电子系统研究院有限公司参与招投标项目189次，财产线索方面有商标信息20条，专利信息291条，此外企业还拥有行政许可10个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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