北京
国家知识产权局信息显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司申请一项名为“基于图像采集装置的半导体缺陷检测方法”的专利，公开号CN121213482A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本公开提供了一种基于图像采集装置的半导体缺陷检测方法，涉及半导体领域，其中方法包括：将原始图像输入机器学习模型，由机器学习模型对原始图像进行处理后得到原始图像对应的重建图像；机器学习模型包括特征提取模块和衍射注意力模块，特征提取模块对原始图像进行特征提取得到包括第一全局特征和第一局部特征的第一图像特征信息；衍射注意力模块采用第一加权系数对第一全局特征进行加权得到第二全局特征，采用第二加权系数对第一局部特征进行加权得到第二局部特征，从而基于第二全局特征和第二局部特征得到重建图像。以改善重建图像的光学伪影等失真现象，减小基于重建图像进行半导体缺陷检测出现缺陷误判的概率，从而提升缺陷检测的准确性。
天眼查资料显示，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司，成立于2025年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，中嘉微视（深圳）半导体科技有限公司参与招投标项目1次，专利信息5条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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