北京
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国家知识产权局信息显示，国际商业机器公司申请一项名为“2D纳米颗粒检测和运动感测”的专利，公开号CN121219576A，申请日期为2024年5月。
专利摘要显示，用于检测介质中包含的分析物的存在和/或监测其运动的装置和方法。更具体地，提供了一种微电容式感测系统，其包括用于检测样品介质中分析物存在的平面微电容式传感器阵列。用于感测识别或跟踪材料运动的传感器结构包括具有第一非接触平面导电电极阵列的顶部平面基底和具有第二非接触平面导电电极阵列的底部平面基底，该第二非接触平面导电电极阵列与第一阵列中相应的对准电极重叠。重叠的导电电极是三角形的，以最大化周长‑面积比。第一和第二平面基底是平行的并且被密封以在其间限定用于接收包括待检测或监测的分析物的介质的体积。通过测量顶部基底中的电极和底部基底中的对准电极之间的电容变化来实现对移动的感测。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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