薄膜材料激光尘埃粒子计数器 助力实时反映生产线动态洁净度

薄膜材料激光尘埃粒子计数器使用背景

随着电子信息、半导体、医药包装、食品保鲜等行业的快速发展，薄膜材料作为核心基础材料，其表面洁净度直接决定终端产品的性能与品质 —— 电子元件封装薄膜的尘埃粒子可能导致电路短路，医药包装薄膜的污染物会影响产品安全性，半导体行业用精密薄膜的微颗粒杂质更是会降低器件良率。然而，薄膜生产过程中易受原料纯度、生产环境、加工设备等因素影响，表面易吸附微米级甚至亚微米级尘埃粒子，传统检测方式存在显著局限：人工目视检查效率低下、主观性强，难以识别微小粒子；离线抽样检测存在数据滞后性，无法实时反映生产线动态洁净度，易导致不合格产品批量流出。

硬件设备

OSEN-2510L型0.1um在线激光尘埃粒子计数器

OSEN-2510L 型 0.1um 激光尘埃粒子计数器，是我司自主研发的新一代专用检测设备。该仪器基于光散射核心原理，通过光电感应检测技术实现对尘埃粒子的粒径识别与数量统计。相较于常规大流量粒子计数器，此款设备的检测粒径下限更低，可精准捕捉最小 0.1um 的微粒，适配一级至十级超洁净环境场景。

技术参数

• 粒径测量范围：0.1um-10.0um
• 标准粒径检测通道：0.1um、0.2um、0.3um、0.5um
• 0.1um 粒径档位计数效率：50±20%
• 0.5um 档位浓度示值误差：±20% FS
• 最大采样浓度：500000PC/CFM，具备浓度超限自动保护功能，同时提示仪器执行自净程序
• 重复测量误差：5% F.S
• 自净时间：≤10min
• 采样流量：28.3L/min±5%，支持流量实时监控，超限自动报警
• 采样周期：1-9999s 可调
• 连续运行能力：支持 24 小时不间断稳定工作
• 激光光源：日本进口长寿命半导体激光二极管
• 内置真空源：使用寿命≥20000 小时
• 显示屏幕：4.3 英寸触摸操作屏
• 供电规格：DC24V/1A
• 通讯接口：RS485（ModbusRTU 协议）、以太网（ModbusTCP 协议）、无线通讯（LoRa 协议）
• 校准依据：JF1190-2008、GB/T 25915.1-2021
• 外壳材质：304 不锈钢
• 外形尺寸：19.2cm（宽）×21.2cm（深）×15.2cm（高）
• 设备重量：4kg
• 工作环境条件：温度 0-40℃，相对湿度 10%-90%（无凝结）
• 存储环境条件：温度 - 10-50℃，相对湿度 0-90%（无凝结）