JK-TPS-2000型热常数分析仪

JK-TPS-2000型热常数分析仪

JK-TPS-2000型热常数分析仪该仪器采用先进的瞬变平面热源法及纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.01-200W/MK之间，适用样品类型：固体、粉末、涂层、液体、各向异性材料等多种不同形式材料。参考标准：ISO22007-2。

主要特点：

1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间。

2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响

3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面

4. 可用于固体、粉末、液体、各向异性材料等热物性参数的测定。

技术要求及参数：

（1）一次测试可同时得到被测样品导热系数、热扩散系数和比热容（体积）三个数据；

（2）内置精度不低于6位半的Keithley高精度万用表，可测最小电压至0.1uV，最小直流电流至10nA；开关触动时间小于3ms；并配置最小测量精度为± 438nA的源表；数字化电压取样率为不低于90000/秒；设备安装时需要检查上述硬件，保证高精度原始数据的获取；

（3）导热系数测定范围≥0.005~1800 W/(m٠K)；

（4）热扩散率≥0.01~1200mm2/S；

（5）比热测量范围≥0.01~5 MJ/(m3K)；

（6）*导热系数测量精度≤± 3 %；

（7）热扩散率测量精度≤± 5 %；

（8）比热测量精度≤± 7 %；

（9）导热系数测量重复性≤1%

（10）具有结构探头功能，能够一次测试得到2000个数据点组成的瞬态曲线，同时给出沿块体材料厚度方向的导热系数梯度变化曲线；

（11）具有 1 维测试功能，能够精确测得直径≤7 mm，高度≤50 mm 黄铜柱的导热系数；

（12）测试环境：RT~400℃，控温精度不低于±0.1℃，温度波动度不大于±1℃/h，温度均匀性不大于±2℃；

（13）中温测试环境的内部空间不小于40L，且可以由主机自带软件自动控制升降温和测试过程。

（14）有效瞬态测试时间范围≥12560S；有效瞬态功率≤10nW,且可在软件中检查；

（15）能够原位测试，不需制样或制样工作很少；

（16）最小块体样品尺寸：厚度2 mm, 直径 10 mm；同时能够对最薄75um的单层石墨薄膜、铝塑膜等高导薄膜材料进行准确测试；

（17）工作电压：220 V, 50 Hz；

（18）可测样品类型：固体、粉末、液体、膏状物和复合材料等；

（19）探头：双螺旋圆形黄色聚酰亚胺覆膜探头，主要元件为光刻镍丝，且常温探头与导线应是一体的，不接受黑色覆膜探头或导线与探头分开的设计，以免影响探头使用精度和寿命；为应对1mm以下高分子材料测试，应提供半径≤0.9mm的探头；同时应能提供19*16mm条带探头，便于测试样品内沿某一方向的导热系数；