泰瑞达推出业界卓越的UltraPHY解决方案

泰瑞达（NASDAQ:TER）今日宣布推出一款基于UltraFLEXplus平台的突破性高速PHY性能测试板卡——UltraPHY 224G。该解决方案与已量产并被多家客户采用的UltraPHY 112G板卡形成更完善的产品组合。两款解决方案均针对UltraFLEXplus设计，并借助泰瑞达先进的IG-XL软件，方便用户快速上手使用。

UltraPHY 224G由泰瑞达采用Multilane模块研发，可为量产测试提供实验室级别的信号生成与测量功能。该产品按照严格的软硬件标准打造，为测试密度和信号保真度树立新标杆，以满足下一代芯片高速接口的需求。

泰瑞达副总裁兼计算测试事业部总经理Roy Chorev表示：“随着泰瑞达UltraPHY 224G的推出，我们进一步扩充产品组合，以满足下一代PHY更苛刻的测试要求。客户可以放心，泰瑞达对UltraPHY的投入既能支持当前的芯粒架构、先进封装及KGD工作流程，也能满足未来的技术需求。”

UltraPHY 112G针对当前的高速标准进行优化，而UltraPHY 224G拓展性能边界，可满足数据中心和硅光子（SiPh）市场中新出现的数据速率需求。两款板卡可在同一UltraFLEXplus平台上同时使用，为客户提供极大的灵活性，轻松应对当前和未来的各类高速接口测试需求。

每个UltraPHY 224G板卡提供8个全双工差分通道和8个纯接收差分通道，采用DSO + BERT架构，并支持高达112 Gb/s NRZ和224 Gb/s（112 Gbaud PAM4）的数据速率。与泰瑞达的UltraPHY 112G一样，UltraPHY 224G具有极高的可扩展性，每个UltraFLEXplus平台可支持多个板卡，并能随着行业发展而灵活支持新出现的先进调制格式。

主要优势包括：

• 单一测试平台满足所有PHY测试需求–UltraPHY 224G和UltraPHY 112G均基于泰瑞达UltraFLEXplus设计。
• 平台共存–同一UltraFLEXplus可同时搭载UltraPHY 224G和UltraPHY 112G，实现PHY测试的全数据速率覆盖。
• 依托泰瑞达应用广泛的IG-XL软件，大幅简化测试程序开发与调试诊断工作。
• 基于先进的实验室技术，UltraPHY提供全面集成的量产测试解决方案，并由泰瑞达统一提供服务和支持。
• 集成DSO、AWG和BERT功能，可实现全面的PHY量产测试和特性分析。
• 信号传输带宽超50GHz，其可靠性已在生产环境中得到验证。
• 架构具有可扩展性，能支持当前和未来适用于SiPh及非SiPh芯片的电气接口标准。

随着高速PHY接口不断演进，部署在同一测试平台（泰瑞达UltraFLEXplus）上的泰瑞达UltraPHY成为一种能够满足未来需求的解决方案。