北京
金融界2025年7月2日消息，国家知识产权局信息显示，华润微电子（重庆）有限公司申请一项名为“硅片金属污染检测方法”的专利，公开号CN120237028A，申请日期为2023年12月。
专利摘要显示，本发明涉及一种硅片金属污染检测方法，包括以下步骤：提供待测硅片，待测硅片具有相对设置的第一表面和第二表面，第一表面具有污染中心；构建公式一，公式一用于反映待测硅片第一表面任意位置与待测硅片污染中心的金属元素含量的关系；确定待测硅片污染中心的位置以及当前待测硅片污染中心的金属元素含量，结合公式一以获得当前待测硅片第一表面任意位置的金属元素含量。上述硅片金属污染检测方法仅需确定待测硅片污染中心的金属元素含量就能够及时有效的获得当前待测硅片表面任意位置的金属元素含量，而不需要对每个位置均进行检测，这减少了检测次数，缩短了检测时间，提高了检测效率。
天眼查资料显示，华润微电子（重庆）有限公司，成立于2007年，位于重庆市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本198920万人民币。通过天眼查大数据分析，华润微电子（重庆）有限公司参与招投标项目2239次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息433条，此外企业还拥有行政许可47个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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