(全球TMT2025年3月12日讯)国际电工委员会(IEC)正式发布《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》(IEC 62276:2025),首次明确了压电材料的光学性能标准。三安滤波器晶体团队在关于透过率(晶片黑化程度)的相关技术要求和测量方法上做出重要贡献。
声表面波(SAW)滤波器作为射频前端的核心组件,其市场需求正不断增长。此次IEC发布的新标准由中国企业主导修订,标志着中国在高端压电材料领域实现从技术跟随到规则制定的跨越。泉州三安集成(原晶安光电团队)依托三安光电的研发制造经验,持续投入LN/LT压电材料制备工艺的研发,并在新标准论证过程中提出了多项技术性修改内容,纳入了新标准中主要的修订内容之一。
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