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绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统概述：
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统（Electrochemical Migration Reliability Assessment System (ECM-RAS)）离子迁移评估系统是基于电化学失效机理研发的可靠性验证设备，主要用于评估印刷电路板基材及封装材料的抗离子迁移特性。本系统通过模拟电子产品在高温高湿环境下的极端工况，量化分析绝缘材料的介电性能劣化趋势，为材料供应商提供关键性失效数据。
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统技术优势
- 多通道同步监测：支持8/16通道矩阵切换，实现不同测试pattern的并行验证
- 环境模拟能力：具备THB（Temperature Humidity Bias）测试模式，支持85℃/85%RH双85加速试验
- 安全防护机制：内置电弧检测单元和快速断路保护（响应时间<10μs）
- 数据可视化：配备实时热像分析模块，可同步显示测试样品的表面电势分布
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统应用方向：
- 基板材料评估
- 封装材料测试
- 表面处理研究
- 新型材料开发
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