北京
金融界2025年1月15日消息，国家知识产权局信息显示，北京鸿浩信达技术有限公司申请一项名为“针对AI优化的磁体表面缺陷检测设备控制方法及控制器”的专利，公开号CN 119290894 A，申请日期为2024年11月。
专利摘要显示，一种针对AI优化的磁体表面缺陷检测设备控制方法及控制器，涉及控制调节系统领域，该方法包括：根据输送监测图像，确定输送平台上待测磁体的表面亮度信息；根据表面亮度信息确定检测光源参数，并以检测光源参数调整检测工位的照射光源；在待测磁体到达检测工位时，采集待测磁体的表面图像，并实时计算表面图像的灰度特征值；在灰度特征值与预设灰度目标的数值偏差超过预设偏差阈值时，根据数值偏差对检测光源参数进行微调，确定目标光源参数；控制检测工位的照射光源以目标光源参数进行照射，并再次获取待测磁体的表面图像，作为目标图像；将目标图像输入AI检测模型中，得到缺陷检测结果。实施该方法，能提高对不同磁体的检测效果。
天眼查资料显示，北京鸿浩信达技术有限公司，成立于2005年，位于北京市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本100万人民币，实缴资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，北京鸿浩信达技术有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目2次，知识产权方面有商标信息3条，专利信息16条，此外企业还拥有行政许可5个。
本文源自：金融界
作者：情报员
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