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金融界2024年11月22日消息，国家知识产权局信息显示，长鑫存储技术有限公司申请一项名为“存储芯片的测试方法、装置、设备、介质及程序产品”的专利，公开号 CN 118982997 A，申请日期为 2023年5月。
专利摘要显示，本公开涉及一种存储芯片的测试方法、装置、设备、介质及程序产品，涉及存储芯片测试技术领域，测试方法包括：向目标位线对应的存储单元写入测试数据；向第一伪位线提供第一电压，并读取目标位线对应的存储单元中的测试数据，以确定目标位线对应的存储单元的第一失效数量；再次向目标位线对应的存储单元写入测试数据；向第一伪位线提供第二电压，并读取目标位线对应的存储单元中的测试数据，以确定目标位线对应的存储单元的第二失效数量，其中，第二电压不同于第一电压；根据第一失效数量和第二失效数量，直接判断出伪位线实际连接电位的有效性及其是否能够正常工作。
本文源自：金融界
作者：情报员
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