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金融界2024年11月14日消息，国家知识产权局信息显示，上海华力集成电路制造有限公司申请一项名为“四端法电阻测试结构”的专利，公开号CN 118937800 A，申请日期为2023年5月。
专利摘要显示，本发明公开了一种四端法电阻测试结构，测试单元包括：由两个以上被测试电阻串联形成的电阻串，各被测试电阻的两端分别设置有一个第一焊垫，各被测试电阻的两个第一焊垫中的至少一个和相邻的被测试电阻的第一焊垫共用。各被测试电阻都包括两个激励端和两个测量端，两个激励端由被测试电阻的两端的第一焊垫形成以及两个测量端分别由位于对应的激励端相邻位置上的一个焊垫组成。当选定被测试电阻的选定激励端对应的第一焊垫和相邻被测试电阻共用时，选定被测试电阻的和选定激励端相邻的选定测量端由相邻被测试电阻的另一端的第一焊垫组成。本发明能在保证测量精度的条件下节省焊垫数量并从而节省面积。
本文源自：金融界
作者：情报员
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