薄膜产生静电的原因：宏观原因，薄膜生产过程中，由于大量托辊、橡胶辊、金属辊的存在，导致绝缘的膜料大量摩擦，产生达十几万伏的高静电，严重影响产品质量与生产安全，因此在分切、复卷等应用中，须消除静电；微观原因，根据原子物理理论，电中性时物质处于电平衡状态，产生电子的得失，使物质失去电平衡，产生静电现象。
测定薄膜的抗静电有2种方法：
（1）测定薄膜的表面电阻;
表面电阻率性能等级电荷衰减时间(T 1/2)性能等级;10的11次方.
优CDT<1优SR<10(11)-10(12)
良CDT<1良SR<10(12)-10(13)
中CDT<1中SR<10(13)-10(14)
差CDT<1差
用表面电阻仪测试，表明电阻越大，抗静电效果就越差，最少要达到10的12次方欧姆。
（2）测定薄膜表层电荷的半衰期。
在实验室条件下，以电晕放电形式使塑料薄膜带电后，其静电半衰期的测试方法。本标准适用于塑料薄膜，其他绝缘材料制成的薄膜也可参照采用。
薄膜静电检测标准：
GB/T 16578.1-2008塑料薄膜和薄片耐撕裂性能的测定第1部分：裤形撕裂法
DIN 5510轨道交通工具材料防火性能测试
GB/T 20672-2006硬质泡沫塑料在规定负荷和温度条件下压缩蠕变的测定
GB/T 15048-1994硬质泡沫塑料压缩蠕变试验方法
GB/T 20197-2006降解塑料的定义、分类、标志和降解性能要求
GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
GB/T 7141-2008塑料热老化试验方法
GB/T 2577-2005玻璃纤维增强塑料树脂含量实验方法
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