北京
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国家知识产权局信息显示，微芯片技术股份有限公司申请一项名为“用于双核锁步微控制器中的故障检测的装置和方法”的专利，公开号CN123099815A，申请日期为2025年4月。
专利摘要显示，提供了一种用于双核锁步微控制器中的故障检测的方法。方法可包括：由第一中央处理电路执行指令集；由与第一中央处理电路并行操作的一个或多个第二中央处理电路执行指令集；使用第一比较器将来自第一中央处理电路的输出与来自一个或多个第二中央处理电路的输出进行比较；使用一个或多个第二比较器将来自第一中央处理电路的输出与来自一个或多个第二中央处理电路的输出进行比较；以及由至少一个逻辑门响应于从第一比较器和一个或多个第二比较器接收的输出信号来触发故障信号。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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