北京
国家知识产权局信息显示，无锡伟测半导体科技有限公司取得一项名为“一种检测设备”的专利，授权公告号CN224873730U，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本申请涉及一种检测设备，应用在半导体晶圆领域，包括支撑架，所述支撑架上设有限位装置和图像获取装置，所述限位装置用于对晶舟盒位置限位，所述图像获取装置用于拍摄晶舟盒内晶圆的图像信息，并根据所述图像信息确定晶圆的摆放情况。本申请具有的技术效果是：当需要对晶舟盒内的晶圆进行观测时，待检测的晶舟盒架设在支撑架上，限位装置对晶舟盒的位置限位，启动图像获取装置获取晶舟盒内晶圆的图像信息，并根据该图像信息确定晶圆的摆放情况，判断晶圆是否存在叠片的现象，实现对晶舟盒内晶圆的自动化检测，省时省力，减少了人工检测时漏检的可能性的同时提高了检测效率。
天眼查资料显示，无锡伟测半导体科技有限公司，成立于2020年，位于无锡市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本43000万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡伟测半导体科技有限公司参与招投标项目14次，专利信息41条，此外企业还拥有行政许可159个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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