北京
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国家知识产权局信息显示，芯恩（青岛）集成电路有限公司取得一项名为“用于半导体测试的探针卡夹具”的专利，授权公告号CN224840285U，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本实用新型提供了一种用于半导体测试的探针卡夹具，包括夹具基座以及固定结构，夹具基座上设置有探针卡放置区域以及安装孔，其中放置区域被配置为能够可切换地放置至少两种不同外形规格的探针卡，安装孔用于将夹具基座固定于测试设备上，固定结构用于将探针卡固定于夹具基座上，该用于半导体测试的探针卡夹具的放置区域能够可切换地放置至少两种不同外形规格的探针卡，当测试不同产品需要更换不同外形规格的探针卡时，操作人员只需要拆除旧的探针卡更换新的探针卡即可，不需要拆卸对应的夹具基座，提高了测试设备的测试效率。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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