北京
国家知识产权局信息显示，广州幸颖检测设备有限公司申请一项名为“晶圆或基板上µLED或mLED器件非损不良检测方法及系统”的专利，公开号CN122860040A，申请日期为2026年7月。
专利摘要显示，本发明公开了晶圆或基板上µLED或mLED器件非损不良检测方法及系统，属于微显示器件检测技术领域。该系统包括检测对象载台结构体、Pattern Generator、单个或多个探针结构体、探针载台结构体、检测模块、检测模块载台结构体、数据处理模块。检测对象载台结构体可承载硅/玻璃晶圆或TFT基板上的µLED/mLED器件；检测模块可选用电容传感器、磁场检测单元、光致发光检测单元、电致发光检测单元中的至少一种，结合数据处理模块的融合分析，在不损伤器件的前提下精准识别电极短路、电极断线、发光异常等不良。本发明适配不同状态的检测对象，检测精度高、效率高，可为µLED/mLED器件的工艺优化提供详实数据，适用于量产线的良率管控。
天眼查资料显示，广州幸颖检测设备有限公司，成立于2013年，位于广州市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本202万人民币。通过天眼查大数据分析，广州幸颖检测设备有限公司参与招投标项目1次，专利信息5条，此外企业还拥有行政许可11个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
