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国家知识产权局信息显示，同方威视技术股份有限公司;清华大学申请一项名为“信号校正方法、辐射成像系统、装置、设备、介质和程序产品”的专利，公开号CN122793770A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本申请提供了一种信号校正方法、辐射成像系统、装置、设备、介质和程序产品。其中信号校正方法包括：响应于射线源发出射线束扫描目标对象，利用层叠设置的至少两层探测器探测射线束透过目标对象后形成的至少两个投影数据；基于至少两层探测器之间的约束信息以及至少两个投影数据确定目标函数，其中，约束信息指示了散射信号在至少两层探测器之间的跨层转换规则；在目标函数的因变量的解取值符合预设条件的情况下，基于目标函数的散射信号自变量的解取值，得到至少两层探测器探测的至少两个散射信号各自的强度；基于至少两个投影数据以及至少两个散射信号各自的强度，得到至少两层探测器探测的经校正的至少两个透射信号各自的强度。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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