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国家知识产权局信息显示，厦门宏芯创电子有限公司取得一项名为“芯片老化测试装置”的专利，授权公告号CN224758673U，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片老化测试装置，包括：测试座、近场通信控制器、近场通信天线分别与芯片烧录板电连接；所述测试座通过串行接口与所述近场通信控制器电连接；所述近场通信控制器与所述近场通信天线电连接，且所述近场通信控制器内设有存储器；其中，所述近场通信天线用于接收预设标识，并将预设标识发送至所述近场通信控制器，所述近场通信控制器用于将预设标识存储至所述存储器。本申请提高芯片老化测试过程中的整体烧录效率。
天眼查资料显示，厦门宏芯创电子有限公司，成立于2021年，位于厦门市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本19000万人民币。通过天眼查大数据分析，厦门宏芯创电子有限公司参与招投标项目2次，专利信息22条，此外企业还拥有行政许可5个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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