北京
国家知识产权局信息显示，航天科工微电子系统研究院有限公司申请一项名为“一种光学设备动密封多参数综合性能测试装置及方法”的专利，公开号CN122730264A，申请日期为2026年6月。
专利摘要显示，本发明公开一种光学设备动密封多参数综合性能测试装置，包括密封腔组件、轴系驱动控制组件、环境温度模拟组件、充放气控制组件和传感器阵列；本发明还公开一种光学设备动密封多参数综合性能测试测试方法，包括以下步骤：安装被测动密封件，安装所述光学密封腔组件、环境温度模拟组件、充放气控制组件；连接轴系驱动控制组件及传感器阵列，完成系统自检及校准；对光学密封腔组件进行气密性检查，并实施抽真空及气体置换，使腔体内环境达到试验条件；控制传动系统按预设转速运行，模拟动密封件实际工作状态；测试过程同步采集参数；测试结束后，对光学镜片进行状态评估，得到被测动密封件在复现真实光学工况下的综合性能评价结果。
天眼查资料显示，航天科工微电子系统研究院有限公司，成立于2017年，位于成都市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本33150.2万人民币。通过天眼查大数据分析，航天科工微电子系统研究院有限公司参与招投标项目210次，财产线索方面有商标信息20条，专利信息314条，此外企业还拥有行政许可12个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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