北京
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国家知识产权局信息显示，清华大学申请一项名为“基于三维透视的射线检测装置和方法”的专利，公开号CN122709483A，申请日期为2025年3月。
专利摘要显示，本公开提供了一种基于三维透视的射线检测装置和方法。该装置包括：支架、射线源、探测器、传送装置和卡槽。探测器与射线源相对布置，传送装置位于所述射线源和所述探测器之间。射线源包括多个焦点，其中，该多个焦点产生的射线束的中心线相交于目标点。传送装置的传送表面上设置卡槽，卡槽用于夹持被检测对象，传送装置可以传送卡槽经过目标点。多个焦点中一部分焦点产生的射线束穿过被检测对象后在所述探测器的接收表面中的投影区域存在重叠，并且多个焦点能够被划分为n组，同一组内的焦点产生的射线束在所述探测器的接收表面的投影区域不重叠，n为大于或等于2的整数。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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