对于量子点这类新型发光材料的研发与量产而言,PLQY是衡量其光电转换性能的核心指标,要获得精准可靠的检测数据,离不开专业的量子点荧光量子效率表征设备做支撑,而光致发光量子效率测试仪HiYield-PL凭借内置双测量模式的设计,恰好能满足不同场景下的测试需求,也为不少研发人员解决了测量方法选型的困惑。
HiYield-PL是一款光致发光量子效率测量仪,用于测量发光粉体、薄膜和光功能材料的PLQY及吸收、发射特性。系统支持两步法和三步法,并集成积分测量与数据校正。适用于荧光粉、量子点、发光陶瓷、薄膜材料和配方筛选。PLQY是荧光粉、量子点、发光陶瓷、钙钛矿薄膜和光转换材料的重要指标,但弱吸收、散射和样品形态会显著影响结果。HiYield-PL支持两步法和三步法,便于针对粉体、薄膜和固体样品选择合适的测量方法。
技术特点
1.支持两步法和三步法PLQY测试,可根据样品吸收和散射特性选择测量流程。
2.测试波长范围覆盖300-900 nm,扩展近红外1700 nm,适配常见可见发光材料及近红外体系。
3.可同步输出吸收光谱、发射光谱、光谱功率分布、峰值波长和中心波长等参数。
4.光学耦合部件、样品仓、积分测量主机与分析软件建立标准化绝对量子效率测量测量流程。
产品优势
1.聚焦PLQY标准化测量,流程比通用荧光光谱仪外接积分球更清晰、易复现。
2.两步法/三步法兼容提高对不同样品形态和弱吸收材料的适配能力。
3.专用PLQY测量流程比通用荧光光谱仪外接积分球更易保持校准、操作与数据处理的一致性。
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光致发光量子效率测量系统 HiYield-PL
两步法和三步法,到底该怎么选
光致发光量子产率(PLQY)是表征发光材料性能的核心参数之一,目前行业内测量PLQY主要有绝对法和相对法两种主流方案,也就是大家常说的两步法和三步法。两步法的测量逻辑相对直接,需要分别采集样品和已知量子产率的参比样品的发射光谱,同时同步测定两者对激发光的吸收率,最终通过发射光谱积分强度的比值结合吸收率数据计算得到样品的PLQY。而三步法则引入了积分球作为核心测量组件,能够直接收集样品发出的全部光子以及样品吸收的激发光光子总量,通过两者的光通量比值直接算出PLQY,测量结果不受参比样品性能的限制,数据的绝对可靠性更高。
HiYield-PL光致发光量子产率测试系统同时内置了两种测量模式,大家可以根据待测样品的类型和实际的测量精度需求灵活选择最合适的方案。如果你的待测样品是薄膜、块体固体或者粉末这类固态样品,我们更推荐优先选择积分球三步法进行测量,因为这类样品往往存在表面粗糙、形态不规则的问题,两步法测量时很容易因为样品的几何形状带来光线反射、散射的误差,而积分球可以把各个方向出射的光线全部收集起来,从原理上消除了样品形态对测量结果的干扰,数据稳定性和准确度都会更有保障。如果你的样品是溶解均匀的溶液样品,常规测试场景下选择两步法就已经能满足精度要求,不需要额外配置积分球,测试流程也更简便。
如果没有结合样品特性选对测量方法,很容易出现结果偏差,甚至得到完全不符合实际的测试数据。比如面对强散射的固态样品,如果贸然使用两步法测量,散射光会干扰吸收率的测定过程,导致最终计算出来的PLQY和真实值相差较大;而如果是发光强度很弱的稀溶液样品,使用积分球法测量时就要特别注意光路的密封性,避免未被样品吸收的激发光泄漏进入探测器,干扰弱发光信号的采集,导致结果出现异常偏高的问题。提前了解两种方法的技术特点和适用场景,是获得准确可靠PLQY测量结果的重要前提。
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总的来说,选对适配样品特性的测量方案,是获得真实可信PLQY数据的核心前提,而一款合格的量子点荧光量子效率表征设备,也需要同时覆盖双测量模式以适配不同的检测场景,光致发光量子效率测试仪HiYield-PL的双模式设计恰好契合了这一需求,能够帮助研发人员灵活应对不同形态样品的检测要求,大幅降低测量误差,为发光材料的性能优化提供可靠的数据支撑。
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