北京
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国家知识产权局信息显示，毕克-加特纳有限责任公司申请一项名为“用于通过高分辨率图像记录检查表面的设备和方法”的专利，公开号CN122567546A，申请日期为2026年2月。
专利摘要显示，一种用于检查表面的光学特性的设备（1），包括：第一辐射装置（2），适于并旨在沿第一辐照方向（R1）将辐射辐照到待检查的表面上，第一辐照方向被第一辐照角度（a1）表征；第二辐射装置（4），适于并旨在沿第二辐照方向（R1）将辐射辐照到待检查的表面上，第二辐照方向被第二辐照角度（a2）表征；以及第一图像记录装置（6），适于记录由辐照装置中的至少一者辐照的表面的空间分辨图像；该设备具有第二图像记录装置（8），第二图像记录装置适于记录表面的空间分辨图像，并且特别地记录由辐照装置中的至少一者辐照的表面的空间分辨图像。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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