北京
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国家知识产权局信息显示，苏州实验室;微旷科技（苏州）有限公司申请一项名为“一种基于透射X射线劳厄衍射图像的杂晶检测方法”的专利，公开号CN122550485A，申请日期为2026年5月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于透射X射线劳厄衍射图像的杂晶检测方法，属于无损检测技术领域。本发明集成样品自动平移扫描系统，采集单晶高温合金X射线二维衍射图像，通过融合扫描网格的空间位置信息自适应建立动态锚点图像，并基于空间拓扑关系约束选择具有强判别力的正负样本对。采用度量学习方法，使深度学习模型能够精准识别杂晶与正常晶体在连续空间中的细微衍射特征差异，显著提升杂晶识别的精度、鲁棒性和工程实用价值。有效解决了传统无监督聚类方法在复杂衍射图像分析中的误识别问题。传统无监督聚类方法仅依赖不同图像特征空间的距离度量，极易因衍射图像的结构相似性而将正常晶体图像误判为杂晶。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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