北京
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国家知识产权局信息显示，浙江华睿科技股份有限公司申请一项名为“图像坏点矫正方法、设备及存储介质”的专利，公开号CN122492523A，申请日期为2026年4月。
专利摘要显示，本申请公开了一种图像坏点矫正方法、设备及存储介质，该图像坏点矫正方法包括：提取待处理图像中的强坏点和弱坏点；确定与强坏点邻近的像素得到初始参考像素，剔除初始参考像素中的弱坏点或降低初始参考像素中弱坏点的权重参数，得到强坏点对应的处理后参考像素；基于处理后参考像素的像素值计算矫正像素值，将强坏点的原始像素值替换为矫正像素值。根据弱坏点对强坏点的参考像素进行筛选或权重调整，减少不可靠像素在矫正过程中的数据污染，根据处理后参考像素的像素值计算强坏点的矫正像素值，提高强坏点矫正的准确性，且弱坏点仅用于调整强坏点的参考像素，不计入最终坏点总数，绕过行存资源瓶颈。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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