北京
国家知识产权局信息显示，深圳市嘉德半导体技术有限公司取得一项名为“一种Nand Flash储存芯片测试治具”的专利，授权公告号CN224536707U，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种Nand Flash储存芯片测试治具，包括测试座，所述测试座上表面中心设置有测试槽，所述测试槽底部固定安装有连接端子，所述测试座上表面四角均固定安装有连接杆，所述连接杆外壁设置有弹簧，所述测试座左右两侧开设有两个对称设置的安装槽，多个所述连接杆外壁共滑动连接有压板，所述弹簧位于测试座与压板之间；对位机构，所述对位机构固定安装于压板顶部，通过下料机构实现多颗芯片自动连续输送，底座上安装台的芯片架可堆叠放置多颗待测试芯片，气缸驱动推板将最下端芯片快速推入对位机构。同时，芯片无需人工校准即可自动落入测试槽；锁定机构借助“锁止片+压杆+传动槽”联动，下压/松开压板就能完成芯片快速锁定与解锁。
天眼查资料显示，深圳市嘉德半导体技术有限公司，成立于2022年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1050万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市嘉德半导体技术有限公司专利信息6条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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