骗走国家11亿、拖垮中国芯片十年的陈进，最终结局大快人心

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2003年，一枚写着“汉芯一号”的芯片被高高举起。

发布会现场灯光明亮，上海交通大学教授陈进站在镜头前，向外界展示这项被寄予厚望的国产数字信号处理器。媒体把它称为中国芯片领域的重要突破，掌声、科研经费和各种荣誉随之而来。

三年后，剧情彻底翻转。

有关部门调查认定，陈进在“汉芯”系列芯片研制过程中存在严重造假和欺骗行为，利用虚假成果欺骗鉴定专家、所在高校、研究团队、地方政府、中央有关部委以及社会公众。曾经被包装成自主创新代表的人，教授资格、学院院长职务和“长江学者”等头衔被陆续撤销。

网络后来把这段经历概括成“美国不要的学术骗子，回国后摇身变成名校教授”。这句话足够刺激，里面却混入了未经证实的成分。陈进后来被正式认定存在严重科研造假，属于清楚事实；他是否在美国已经因为学术不端被清退，目前公开权威资料并未给出可靠结论。

“美国不要”这句话，不能直接当成史实

公开材料显示，陈进曾在美国接受教育并进入相关企业工作，回国时带着海外集成电路从业经历。至于他离开美国的具体原因，网上存在失业、裁员、能力不足等多种版本，没有看到美国高校、企业或监管机构发布的学术不端处分文件。

因此，把他称为“美国不要的学术骗子”，容易把后来发生的汉芯造假提前安到赴美阶段。

陈进真正能够被权威调查确认的造假行为，发生在他进入上海交通大学、负责“汉芯”系列项目以后。2006年，由科技部、教育部和上海市有关方面组成的专家调查组，通过面谈相关人员、查验技术文档、比对资料、检查演示系统和调阅音像记录，对汉芯一号至四号进行核查，最终认定汉芯一号、二号和三号存在造假欺骗行为。

这个时间界限很重要。批评科研造假需要事实，不能为了标题更响亮，再补上一段没有证据的“美国驱逐史”。

海归光环，让他迅速进入名校核心

陈进回国时，中国芯片产业正处于急需人才和技术突破的阶段。

拥有海外学历、企业经历，又能讲清集成电路设计和产业化故事的人，很容易得到高校、科研部门和地方政府关注。陈进很快成为上海交通大学教授、博士生导师，担任微电子学院院长，后来又获得“长江学者”和“全国优秀科技工作者”等头衔。

这些身份进一步增强了他的可信度。

高校认为他得到人才项目认可，评审专家看到他拥有名校职务，政府部门又根据学校和专家意见提供项目支持。每一层都在参考前一层的判断，最后形成了一个互相背书的闭环。

当时中国社会对国产芯片抱有强烈期待。陈进给出的故事刚好踩中这种情绪：海外专家归国，在短时间内完成技术跨越，产品性能能够挑战国外企业。

科研成果是否真正成熟，需要技术验证；在公众传播中，一个“海外归来、打破垄断”的故事，显然比复杂的测试数据更容易获得掌声。

一场发布会，把汉芯送上神坛

“汉芯一号”亮相后，陈进及其团队获得广泛关注。

在宣传叙述中，这款芯片被赋予很高的技术意义，随后又出现汉芯二号、三号和四号等系列成果。科研项目、产业化资金、人才荣誉与媒体曝光不断叠加，一项技术成果迅速变成了中国自主芯片的象征。

问题在于，芯片展示出来，不代表它已经达到宣传中的性能。

官方调查披露，提供鉴定的“汉芯一号”是一款208只管脚封装的数字信号处理器，结构无法单独完成指纹识别和MP3播放等复杂演示。发布会演示系统实际使用的，却是一枚带有“汉芯”标识的144只管脚芯片。当时汉芯公司并未研制出这种144只管脚芯片。

也就是说，台上让观众看到的演示效果，与接受鉴定的那枚芯片并非同一回事。

一场面向公众的成果发布，被提前设计好的演示系统撑了起来。外行看到机器正常运行，自然认为芯片性能已经得到证明；真正决定效果的部件，却藏在普通人看不到的设备内部。

真相不只是一块被磨过的芯片

提起汉芯骗局，人们最熟悉的情节，是陈进买来国外芯片，找人磨掉原有标识，再刻上“汉芯一号”。

这段叙述广泛流传，多所高校后来也把它收入学术诚信警示案例。

汉芯事件的严重程度，不能只用“磨掉商标”概括。

官方通报认定，汉芯一号、二号和三号在设计过程、性能指标及成果展示中存在多项造假欺骗。陈进以这些成果获取科研项目、人才称号和产业支持，影响的对象覆盖学校、专家、政府部门和公众。

一枚芯片换个标识，只是最有画面感的部分。真正的骗局需要更长的链条：技术材料怎样编写，鉴定系统怎样准备，团队人员怎样配合，项目申报如何通过，后续成果怎样继续包装。

陈进能够把骗局持续数年，说明问题已经超出个人诚信范围。只要评审和验收真正进入底层技术，对源代码、设计文件、流片记录和测试过程进行独立复核，单靠一场演示很难撑起如此庞大的故事。

专家为何会被一套演示骗过去

芯片属于专业门槛很高的领域，普通媒体无法直接判断真伪。令人不解的是，项目经过了专家鉴定，仍然一路获得认可。

原因可能出在鉴定方式。

专家看到的材料、样机和演示，大量由申报者自己准备。鉴定时间有限，评审人员很难重新完成芯片设计、封装和应用测试。现场设备能够运行，文件中的参数看起来完整，再叠加高校和海归专家的身份背书，质疑成本便会升高。

中国教育和科研计算机网后来在讨论科研评价问题时指出，“汉芯”等事件暴露出科技奖励与项目评审中的深层漏洞，成果真实性、评审独立性和责任追究都需要加强。

科研评价若过度追求填补空白、国际领先和短期产业化，申请人便容易把项目写成一场必须成功的表演。评审人员又缺少足够时间和条件进行复现，报告、头衔和现场演示就可能取代真实技术。

汉芯骗过的并非几个毫无知识的人。它利用了整个系统对海归人才、重大突破和国产替代的迫切期待。

头衔全部撤销，留下的损失却很难追回

2006年调查结论公布后，上海交通大学撤销陈进微电子学院院长职务和教授任职资格，解除教授聘用合同。

科技部终止他负责的科研项目，追缴相关经费，取消其此后承担国家科技计划课题的资格；教育部撤销“长江学者”称号，取消政府特殊津贴并追缴拨款；国家发展改革委终止相关产业化项目，中国科协也撤销了他的荣誉称号。

处罚看起来覆盖很广，争议仍未结束。

中国青年报在2006年年底追踪此事时指出，当时未见责任人承担法律责任。科研合同被解除、荣誉被收回，无法完全回答经费损失、评审责任和长期社会影响由谁承担的问题。

汉芯事件带来的伤害，也不只是一笔钱。

它透支了公众对国产芯片的信任，让后来真正从事自主研发的团队承受怀疑；它还暴露出人才引进中的履历崇拜，只要包装得足够漂亮，核验可能让位于抢人才、争项目和造明星。

“美国不要的骗子回国当教授”并非准确结论。更值得追问的是，一个人的海外经历为何能够替代技术核查，一场无法独立复现的演示为何可以换来如此多的经费与荣誉。

陈进制造了骗局，制度漏洞则给骗局留下了通道。

二十多年后再看汉芯，真正需要记住的也许不是那张砂纸。科研成果经不起复验时，再耀眼的海归光环、教授头衔和发布会掌声，也只能把真相推迟一段时间。

参考资料 上海交通大学：《关于“汉芯”系列芯片涉嫌造假的调查结论与处理意见的通报》 中国青年报：《汉芯事件：没人负法律责任》 央视网：《上海交大证实汉芯造假开除陈进入选IT10大丑闻》 央视网：《06年中国十大科技骗局念力医学包治百病列首位》 北京大学学术规范网：《科技部关于国家科技计划实施过程中科研不端行为的处理程序》 中国教育和科研计算机网：《科技奖励制度引学界质疑科技奖公信力》 东南大学：《学术不端典型案例展示》