北京
国家知识产权局信息显示，惠科股份有限公司申请一项名为“平板探测器和X射线成像系统”的专利，公开号CN121908666A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请公开了一种平板探测器和X射线成像系统，所述平板探测器包括闪烁体层、微囊体层和图像传感器层，所述闪烁体层用于将X射线转化为可见光；所述微囊体层设置在闪烁体层下，用于吸收部分可见光；所述图像传感器层设置在所述微囊体层下，用于接收通过所述微囊体层后的所述可见光，并转化为感应电流信号；其中，所述微囊体层内设置有可见光吸收层，所述微囊体层用于调整所述可见光吸收层的厚度，以改变所述可见光吸收层对所述可见光的吸收能力。本申请通过设置微囊体层来改变可见光吸收层的厚度，从而实现在光强较大时，改善图像传感器容易出现过曝的现象，从而提升平板探测器的检测准确性。
天眼查资料显示，惠科股份有限公司，成立于2001年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本656805.1262万人民币。通过天眼查大数据分析，惠科股份有限公司共对外投资了35家企业，参与招投标项目232次，财产线索方面有商标信息99条，专利信息5000条，此外企业还拥有行政许可32个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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