北京
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国家知识产权局信息显示，北方集成电路技术创新中心（北京）有限公司;北京大学申请一项名为“一种基于扫描链架构的存内计算芯片测试装置及方法”的专利，公开号CN121862179A，申请日期为2026年1月。
专利摘要显示，本发明属于集成电路测试技术领域，并公开了一种基于扫描链架构的存内计算芯片测试装置及方法，包括：利用三组独立的扫描链（输入、权重、部分和）配合片上可配置控制器（Config Regs+FSM），实现对存内计算宏单元（CIM Macro）的存储功能（Memory Mode）和计算功能（Compute Mode）的自动化测试。本发明所述技术方案能够以较低的硬件开销和较低的外部IO速率实现对CIM芯片存储与计算功能进行全方位验证。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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