北京
国家知识产权局信息显示，杭州国科微电子有限公司申请一项名为“一种参数同步的测试方法、装置、系统及存储介质”的专利，公开号CN121771387A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本申请公开了一种参数同步的测试方法、装置、系统及存储介质，通过获取至少两个第一图像处理参数设置为对应的初始值时的亮度基准值以及至少两个第二图像处理参数调整为目标参数值时的亮度统计序列，再根据亮度基准值、亮度统计序列和第二图像处理参数调整为目标参数值时的亮度值与亮度基准值的预设关系，得到至少两个第二图像处理参数的同步测试结果。本申请能够自动地识别出至少两个图像处理参数是否在同一帧同步生效，进而能够有效地避免人工测试的主观误判风险，从而能够显著地提升测试效率与准确性。
天眼查资料显示，杭州国科微电子有限公司，成立于2023年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本20000万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州国科微电子有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目3次，专利信息6条。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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