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国家知识产权局信息显示，浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“一种标准单元组合版图良率风险评估方法及系统”的专利，公开号CN121685533A，申请日期为2026年2月。
专利摘要显示，本发明公开了一种标准单元组合版图良率风险评估方法及系统。该方法通过将标准单元组合的版图数据转换为图像数据，并输入训练好的神经网络模型，输出量化的良率风险评分，同时生成可视化的风险热力图定位高风险区域。该系统能够实现设计阶段风险的定量化、可解释预测，并支持利用新增数据持续优化，从而有效提升芯片制造良率。
天眼查资料显示，浙江创芯集成电路有限公司，成立于2020年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本214766.6666万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目275次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息589条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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