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国家知识产权局信息显示，桂林电子科技大学;南宁桂电电子科技研究院有限公司申请一项名为“一种基于区域递归分裂与解析场引导的电子束聚焦参数自适应标定方法”的专利，公开号CN121682127A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于区域递归分裂与解析场引导的电子束聚焦参数自适应标定方法，属于电子束装备精密控制技术领域。针对大视场电子束加工中全场均匀采样效率低、稀疏采样精度差的问题，本发明提出了一种双重驱动的自适应采样策略。该方法利用电子光学解析场构建理论曲率分布图作为先验引导，依据物理先验、差分场非线性与实测形态的多维特征融合判据识别视场中的畸变敏感区域；进而采用递归式的区域几何细分结构对敏感区域进行递归分裂与加密采样，并结合参数继承策略实现窄窗快速搜索；最终基于散乱数据插值算法重构全场高精度模型。本发明能够自动在场曲变化平缓区稀疏采样、在畸变剧烈区加密采样，在保证高聚焦精度的前提下显著提升标定效率。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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