北京
国家知识产权局信息显示，海微智造技术（武汉）有限公司申请一项名为“屏幕外壳尺寸检测方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121612170A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明属于屏幕检测技术领域，公开了屏幕外壳尺寸检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：通过机械臂带动激光扫描仪运动按第一预设路径扫描待测屏幕外壳周围的反光标记点，所述反光标记点为固定尺寸的标准圆点；通过机械臂带动激光扫描仪运动按第二预设路径扫描所述待测屏幕外壳的外表面，获取包含所述待测屏幕外壳的原始点云数据；将屏幕外壳的标准模型转换为点云格式，经降采样后得到标准点云；基于所述反光标记点和所述原始点云数据得到待测点云；将所述标准点云与所述待测点云进行刚性配准，以实现屏幕外壳尺寸的检测。上述方式通过三维模型配准和特征点匹配进行尺寸检测，无需人工进行扫描，自动化程度更高，且检测精度更高。
天眼查资料显示，海微智造技术（武汉）有限公司，成立于2020年，位于武汉市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，海微智造技术（武汉）有限公司参与招投标项目9次，专利信息95条，此外企业还拥有行政许可5个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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