北京
国家知识产权局信息显示，无锡诚恒微电子有限公司申请一项名为“基于UVM的面向图像上采样模块的功性能验证方法”的专利，公开号CN121579297A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种基于UVM的面向图像上采样模块的功性能验证方法，涉及集成电路验证技术领域。该方法在UVM环境中通过DPI‑C接口集成参考Cmodel，基于输入图像的局部梯度直方图，自动划分平滑区、边缘区和纹理区，并分别为各区域设定不同的像素级误差容忍阈值，以匹配人眼视觉特性；结合边缘/纹理特征分析，动态生成符合预设空间频率或纹理复杂度的UVM sequence item，实现内容感知的随机激励；通过记录DUT误差模式与图像特征的映射关系，指导后续测试用例优先覆盖高风险场景。该方法显著提升验证精度与缺陷检出率，降低误报率，并支持对DUT功能正确性、图像质量、时序及功耗等多维度性能的协同评估。
天眼查资料显示，无锡诚恒微电子有限公司，成立于2023年，位于无锡市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本63500万人民币。通过天眼查大数据分析，无锡诚恒微电子有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目1次，专利信息13条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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