北京
国家知识产权局信息显示，深圳市安达新材科技有限公司申请一项名为“面向光学薄膜缺陷的深度学习图像识别系统及方法”的专利，公开号CN121582563A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明公开了面向光学薄膜缺陷的深度学习图像识别系统及方法，涉及图像识别技术领域，用于解决通常采用固定的全局阈值或简单的局部阈值方法，采用固定的区域划分方式，只关注缺陷分割这一个子任务，忽略了光照状态分类和GMM参数预测等相关任务之间的相互影响的问题；利用无缺陷背景图像的灰度分布拟合高斯模型，动态更新背景，根据动态环境下图像的灰度值直方图、重叠度、区域形状规则程度以及光流运动幅度，选择使用自适应网格划分还是基于聚类的区域划分对图像进行划分。适应不同图像的特点和缺陷分布情况，提高缺陷分割的效果，适应不同的环境条件，提高算法的鲁棒性和实用性。
天眼查资料显示，深圳市安达新材科技有限公司，成立于2017年，位于深圳市，是一家以从事橡胶和塑料制品业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市安达新材科技有限公司参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息22条，此外企业还拥有行政许可8个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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