北京
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国家知识产权局信息显示，天津良益科技股份有限公司、天津市职业大学申请一项名为“一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置”的专利，公开号CN121557912A，申请日期为2026年1月。
专利摘要显示，本发明公开了一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，包括激光器、刻度板以及用于承载光学晶体的载物框；还包括用于承载激光器、刻度板的升降板；所述载物框内设有夹具结构，用于夹持光学晶体；所述升降板能够跟随夹具结构夹持光学晶体的大小自适应调节高度。本发明通过夹具结构实现对光学晶体的精准定位与稳定夹持，有效避免了传统装置中被测件无定位基准、调节时易移位的问题，提升了测量精度；通过液压联动机构实现升降板的自适应升降，确保激光束入射角度的稳定性；通过优化刻度板的结构设计，实现对双向反射激光的测量，简化了操作流程。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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