北京
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国家知识产权局信息显示，嘉微科技股份有限公司取得一项名为“探针及测试头”的专利，授权公告号CN223926502U，申请日期为2024年12月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种测试头，测试头包括探针，探针包括主体和填充件，主体沿上下方向纵长延伸，具有在垂直于上下方向的第一方向上相对设置的第一表面和第二表面，主体在其上下两端之间设有凹槽，凹槽沿第一方向贯穿第一表面和第二表面；填充件为软性金属或软性金属合金，其硬度小于主体的硬度，降低探针应力，填充件的导电率大于主体的导电率，填充件填设凹槽，且填充件在第一方向上凸出第一表面和第二表面两者的至少一者，增加探针的面积及体积，降低体电阻，提高探针的电流承载能力。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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