北京
国家知识产权局信息显示，重庆芯联微电子有限公司申请一项名为“标准单元库及其器件拼接检查方法、系统”的专利，公开号CN121502044A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明公开了一种标准单元库及其器件拼接检查方法、系统，属于版图测试技术领域，该标准单元库的器件拼接检查方法，包括提供待测器件，按照尺寸对待测器件进行排序；按照所述排序对所述待测器件依次进行拼接检查，直至遍历所有待测器件；修改任一待测器件的尺寸，将修改后的待测器件移出，并放置在所述排序的首位待测器件之前，对修改后的待测器件进行拼接检查；将拼接检查完成后的待测器件封装成标准单元库。通过提出新的设计流程，改变器件的排列顺序，使修改过的器件顺序提前，显著减少进行abutment拼接检查和DRC检查耗能与时间。
天眼查资料显示，重庆芯联微电子有限公司，成立于2023年，位于重庆市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本870000万人民币。通过天眼查大数据分析，重庆芯联微电子有限公司参与招投标项目937次，专利信息242条，此外企业还拥有行政许可12个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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