北京
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国家知识产权局信息显示，西尔弗雷有限公司申请一项名为“辐射探测器”的专利，公开号CN121511419A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，一种用于将入射辐射转换为正电荷和负电荷的器件（1），包括：网络（2），该网络（2）包括：用于传输正电荷的第一半导体材料；以及用于传输负电荷的第二半导体材料。该第一半导体材料和该第二半导体材料分散在所述网络内，以提供多个电结；其中，该网络还包括分散于网络内部的多个纳米结构团聚体（3），该纳米结构团聚体（3）包括多个相对介电常数不同的区域和/或界面，能够在所述纳米结构团聚体内形成介电不均匀性。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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