北京
国家知识产权局信息显示，上海华力集成电路制造有限公司申请一项名为“测试键、测试结构及测试方法”的专利，公开号CN121510971A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明提供了一种测试键、测试结构及测试方法，应用于半导体技术领域。在本发明中，通过把测试键分为m个测试元件组，把每个所述测试元件组中的测试结构中的子栅极线分为n组，再通过m*n条第一互连线引出每个所述测试元件组中的多个所述测试结构中的每个子栅极线组，并连接到m*n个不同的栅极测试垫上，再对单个或多个所述栅极测试垫施加步进电压测试击穿电压，从而达到同一个测试键下，可通过选择不同的所述栅极测试垫的组合测试不同栅氧面积的目的。
天眼查资料显示，上海华力集成电路制造有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2960000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华力集成电路制造有限公司参与招投标项目2094次，专利信息2708条，此外企业还拥有行政许可397个。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
