国家知识产权局信息显示,国仪量子技术(合肥)股份有限公司申请一项名为“晶圆缺陷分析方法及存储介质、电子设备”的专利,公开号CN121481956A,申请日期为2025年11月。
专利摘要显示,本发明涉及晶圆缺陷检测技术领域,公开了一种晶圆缺陷分析方法及存储介质、电子设备,晶圆缺陷分析方法包括:从晶圆的光学图像中提取各晶格的光学图像;利用预先训练好的决策模型对各所述晶格的光学图像进行高分辨率需求分析,确定待高分辨率检测晶格。该晶圆缺陷分析方法利用预先训练好的决策模型对从晶圆的光学图像中提取各晶格的光学图像进行缺陷分析,通过筛选待高分辨率检测晶格和无需高分辨率检测晶格,可以提高晶圆缺陷检测效率和准确率。
天眼查资料显示,国仪量子技术(合肥)股份有限公司,成立于2016年,位于合肥市,是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本36000万人民币。通过天眼查大数据分析,国仪量子技术(合肥)股份有限公司共对外投资了14家企业,参与招投标项目731次,财产线索方面有商标信息91条,专利信息509条,此外企业还拥有行政许可9个。
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本文源自:市场资讯
作者:情报员
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