北京
国家知识产权局信息显示，南京博威半导体有限公司取得一项名为“一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置”的专利，授权公告号CN223870554U，申请日期为2025年2月。
专利摘要显示，本实用新型公开了一种5光路检测芯片外观瑕疵的自动光学装置，属于半导体芯片外观瑕疵检测技术领域，包括：相机组件、反射组件、外同轴光源、位置调节机构，反射组件位于相机组件一侧，反射组件用于将芯片的成像光线反射给相机组件，外同轴光源设置于相机组件与反射组件之间，外同轴光源用于朝向反射组件发出芯片成像用光线，反射组件还用于将外同轴光源的光线反射给芯片，位置调节机构具有与反射组件距离远近可调节的活动端，活动端安装有相机组件。通过将内同轴光源改为外同轴光源，避免灯珠光晕的硬件缺陷，通过设置位置调节机构，可以实现相机组件与反射组件间距的调节，从而提高了产品的工作效率和易用性。
天眼查资料显示，南京博威半导体有限公司，成立于2024年，位于南京市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本537.6344万人民币。通过天眼查大数据分析，南京博威半导体有限公司专利信息1条，此外企业还拥有行政许可2个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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