北京
国家知识产权局信息显示，至誉科技股份有限公司申请一项名为“一种Nand-flash性能检测装置和方法”的专利，公开号CN121438919A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本申请涉及一种Nand‑flash性能检测装置，包括：PCB板，其上设置有主控芯片和用于与外部测试主机进行通信连接的外部接口；至少一个测试座，其设置于所述PCB板上，其用于承载待测的Nand‑flash芯片；多个安装位，其设置于所述PCB板上，所述安装位包括电连接组件和定位组件，不同的所述电连接组件分别被配置为连接对应型号的测试座，所述定位组件用于将所述测试座固定于PCB板的预设位置。该Nand‑flash性能检测装置和方法，通过设计有通用安装位的PCB板，并利用其引脚定义为超集的电连接组件，使得一个PCB板能够通过更换不同的测试座来适配多种不同封装、不同型号的Nand‑flash芯片，且无需频繁插拔或更换整个PCB板，极大的降低了硬件投入成本，提高了测试效率。
天眼查资料显示，至誉科技股份有限公司，成立于2009年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本8386.8284万人民币。通过天眼查大数据分析，至誉科技股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目7次，财产线索方面有商标信息11条，专利信息139条，此外企业还拥有行政许可7个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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