北京
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国家知识产权局信息显示，同方威视技术股份有限公司;清华大学申请一项名为“散射伪影校正模型的训练方法、散射伪影校正方法和设备”的专利，公开号CN121437684A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本公开提出一种散射伪影校正模型的训练方法、散射伪影校正方法和设备，涉及射线扫描技术领域。在训练过程中，通过实验手段获取以散射为主的训练数据，标注代表性散射伪影区域；随后，利用带标签信息的第一训练样本对第一深度学习模型进行训练，使得训练出的第一模型能够在新的射线扫描图像中自动识别出受散射影响的区域；接着，第二深度学习模型基于第二训练样本学习原始曲线与目标曲线之间的映射关系，使得训练出的第二模型实现对散射影响的精确补偿。基于第一模型和第二模型，构建散射伪影校正模型。后续通过第一模型定位需要校正的区域，通过第二模型进行自适应校正，最终生成高质量的校正图像。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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