北京
分享至
国家知识产权局信息显示，西南科技大学、电子科技大学、相速光电科技（成都）有限公司申请一项名为“一种基于光学探测微波热致声波信号的场强测试系统”的专利，公开号CN121385440A，申请日期为2025年9月。
专利摘要显示，本发明提出一种基于光学探测微波热致声波信号的场强测装置，属于脉冲微波测试测量技术，脉冲微波源脉冲微波照射到传感器上面，传感器上的微波吸收介质吸收微波能量发生局部升温，进而引起热膨胀并产生超声波信号，即微波热致声波信号，微波热致声波信号通过耦合介质并被基于光学的声学探测器探测，采集设备根据该信号的幅值大小、频谱特性和时域波形，可以反演得出入射脉冲微波的场强和脉宽信息。相比于传统的基于探针式的微波场强测试方法，本发明中提出基于光学的方法来探测微波热致声波信号，进而实现场强测试，不会对微波场本身分布造成影响，也不会将脉冲微波信号直接引入采集设备中，是一种抗电磁干扰，高信噪比的场强测试方法。
声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。
本文源自：市场资讯
作者：情报员
特别声明：以上内容(如有图片或视频亦包括在内)为自媒体平台“网易号”用户上传并发布，本平台仅提供信息存储服务。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
