北京
国家知识产权局信息显示，江苏汉印机电科技股份有限公司申请一项名为“碳化硅薄膜外延生长表面缺陷检测方法”的专利，公开号CN121304524A，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，本发明公开了碳化硅薄膜外延生长表面缺陷检测方法，本发明涉及缺陷检测技术领域，利用原子力显微镜对待检测的碳化硅薄膜外延生长表面进行扫描，获取相关图片；然后对图片进行灰度处理，基于像素值区分规则台阶并确定候选像素点，锁定规则台阶像素区域；对规则台阶像素区域进行缺陷判断，通过计算像素值平均值和标准差，若标准差超过预设阈值则判定存在缺陷；同时在规则台阶像素区域内作平行剖面线，提取像素值变化曲线，通过曲线分析进一步确定缺陷；最后根据规则台阶缺陷判断结果评定待检测表面是否存在缺陷；结合原子力显微镜扫描与图像处理技术，有效检测碳化硅薄膜外延生长表面缺陷，提高检测精度。
天眼查资料显示，江苏汉印机电科技股份有限公司，成立于2012年，位于盐城市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本4899.9999万人民币。通过天眼查大数据分析，江苏汉印机电科技股份有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目31次，财产线索方面有商标信息66条，专利信息162条，此外企业还拥有行政许可10个。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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