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国家知识产权局信息显示，同方威视科技江苏有限公司、清华大学、同方威视技术股份有限公司申请一项名为“元素分析系统、方法和装置、以及程序产品”的专利，公开号CN121298792A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
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本文源自：市场资讯
作者：情报员
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